CdS in Chimica e Chimica Industriale - Classi L27, LM54 e LM71
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 Corsi di insegnamento: Cristallografia Logout
 

Cristallografia

 

Anno accademico 2012/2013

Codice del corso 00209
Docente Prof. Gianluca Calestani (Titolare del corso)
Anno 1° anno
Corso di studi Chimica (M)
Tipologia A scelta dello studente
Crediti/Valenza 6
SSD CHIM/03 - chimica generale e inorganica
Erogazione Tradizionale
Lingua Italiano
Frequenza Obbligatoria
Valutazione Orale
Periodo didattico Secondo semestre
Storico Anni precedenti
 

Obiettivi formativi del corso

acquisire padronanza degli aspetti teorici fondamentali delle varie tecniche di diffrazione, dei metodi di raccolta dati e dei metodi di risoluzione ed affinamento strutturale

 

Attività di supporto

Esercitazioni pratiche su stumentazione e raccolta ed elaborazione di dati

 

Programma

Prefazione matematica

Funzione delta di Dirac; funzione reticolo; trasformata di Fourier e sue applicazioni; trasformata di Fourier della funzione reticolo; convoluzione di funzioni; funzioni periodiche come convoluzione di una funzione con una funzione reticolo; trasformata di Fourier di una convoluzione

 Diffrazione di raggi X

Scattering di raggi X; scattering Thomson e Compton; interferenza di onde diffuse e diffrazione; diffrazione da un cristallo infinito; diffrazione da un cristallo finito; fattore atomico di scattering; fattore di temperatura; fattore di struttura; simmetria nello spazio reciproco; legge di Friedel; restrizioni di fase; assenze sistematiche; intensità di diffrazione; fattore di Lorentz; polarizzazione; fattore di trasmissione; aspetti dinamici: estinzione primaria e secondaria, scattering anomalo e dispersione anomala, coppie di Bijvoet

 Aspetti sperimentali della diffrazione di raggi X

Generazione dei raggi X; sorgenti convenzionali; luce di sincrotrone; diffrattometro di cristallo singolo; diffrazione di polveri; diffrattometro di polveri

 Metodi di risoluzione ed affinamento strutturale

Sintesi di Fourier ed il problema della fase in cristallografia; metodi trial and error; funzione di Patterson; simmetria della Patterson; applicazioni della Patterson nella risoluzione strutturale; metodi diretti in cristallografia; statistica di Wilson e fattori di struttura normalizzati; equazione di Sayre, invarianti e seminvarianti di struttura; stima probabilistica dei tripletti invarianti; formula della tangente; procedura di fasatura nei metodi diretti; affinamento strutturale con tecniche di  minimi quadrati; affinamento da dati di polveri con tecniche di Rietveld.

 Diffrazione di neutroni

Interazione neutrone-materia; scattering elastico ed inelastico;  fattore di scattering neutronico; scattering magnetico; sorgenti di neutroni; geometria di diffrazione in sorgenti pulsate; uso della diffrazione neutronica e confronto con la diffrazione di raggi X.

 Diffrazione di elettroni

Teoria cinematica della diffrazione di elettroni; fattore di scattering elettronico; cenni sulla teoria dinamica di diffrazione; il microscopio elettronico a trasmissione ed il simultaneo accesso allo spazio reale e reciproco; microscopia elettronica ad alta risoluzione; confronto fra diffrazione elettronica, neutronica e di raggi X.

 

 

Testi consigliati e bibliografia

Giacovazzo, Monaco, Viterbo, Scordari, Gilli, Zanotti, Catti 
 
Fundamentals of crystallography, IUCr, Oxford Science Publications

appunti del docente

 

Orario lezioniV

GiorniOreAula
Martedì16:30 - 18:30Aula C Plesso Chimico
Giovedì14:30 - 16:30Aula C Plesso Chimico
Lezioni: dal 04/03/2013 al 07/06/2013

Nota: sospensione dal 28/03 - 03/04


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Ultimo aggiornamento: 26/03/2013 11:29
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